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江蘇亨通光纖科技有限公司光纖分析實驗室光纖宏彎損耗測試,在國家標準GB/T9771.3-2008中描述:光纖以30mm半徑松繞100圈,在1625nm測得的宏彎損耗應不超過0.1dB。 為了保證彎曲損耗易于測量和測量準確度,可用1圈或幾圈小半徑環(huán)光纖代替100圈光纖進行試驗,在此情況下,繞的圈數環(huán)的半徑和最大允許的彎曲損耗都應該選的與30mm半徑100圈試驗的損耗值相適應

2018-03-20 15:37:14 · 工業(yè)電器網 閱讀:861
江蘇亨通光纖科技有限公司光纖分析實驗室光纖宏彎損耗測試,在國家標準GB/T9771.3-2008中描述:光纖以30mm半徑松繞100圈,在1625nm測得的宏彎損耗應不超過0.1dB。 為了保證彎曲損耗易于測量和測量準確度,可用1圈或幾圈小半徑環(huán)光纖代替100圈光纖進行試驗,在此情況下,繞的圈數環(huán)的半徑和最大允許的彎曲損耗都應該選的與30mm半徑100圈試驗的損耗值相適應
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